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基礎信息Product information
產品名稱:

多通道長期電熱老化試驗平臺

產品型號:Huace-LHD-8

廠商性質:生產廠家

所在地:北京市

更新日期:2026-03-27

產品簡介:

華測儀器Huace-LHD-8多通道長期電熱老化試驗平臺每路單獨控制:在多路同時老化時,每路可以設置不同的老化電壓和老化時間,且各路極化互不影響。

產品特性Product characteristics
品牌華測

Huace-LHD-8多通道長期電熱老化試驗平臺

價格僅供參考,如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例,歡迎致電我司技術工程師


Huace-LHD-8多通道長期電熱老化試驗平臺由華測儀器生產,采用連續長周期試驗,連續運行能力:24小時不間斷測試,溫控精度±0.5℃,電壓波動≤±1%,確保數據可靠性;具有抗干擾設計:采用電磁屏障腔體與冗余供電系統,避免電網波動或環境干擾導致試驗中斷,模塊化設計:可擴展真空(≤10-3PA)、濕度(10~98%RH)、腐蝕氣體(如H2S、SO2)等環境;原位檢測接口:集成電阻、電容、紅外熱成像等實時監測功能,捕捉老化過程中材料性能的漸變與突變;采用新3D結構標準化設計,搭載智能潮汐冷凍技術,結合雙向動態熱能管理系統,實現性能、可靠、節能和準確的溫度/濕度控制(節能效果超過 40%,制冷能力提高6%)。


產品參數

Huace-LHD-8

通道數:8ch(至大40ch)

輸出電源類型:直流/交流

劣化分析(LHD8):電流采集:1pA ~ 20mA

測量精度:1%

測試時間:10s/1ch(可設置)

電源輸出范圍:電壓:5kV ~ 20kV (可選50kV)

                         電流:0 ~ 100mA

                         功率:2400W


多通道長期電熱老化試驗平臺


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