溫度，是衡量電容器性能穩定性的關鍵考驗。在高低溫交替、工況復雜多變的環境中，如何準確捕捉電容特性的細微變化，真實還原器件在實際場景下的表現？

華測儀器 HCCT-40H 電容器溫度特性評估系統，專為 MLCC、薄膜電容、陶瓷電容等多類電容器量身打造，提供一套多通道、全自動、高準確度的溫變特性綜合測試方案。

系統支持至多 64 通道同步測量，可按 8 通道倍數靈活選配，可實現 64 路樣品并行測試，1 分鐘內即可完成全參數掃描，大幅優化測試通量與效率，告別單通道逐點測試的漫長等待。

設備搭載三大測試模式：溫度特性測試、恒定運行測試、頻率特性測試，實現對電容性能的三維評估。支持至高201 步頻率掃描，掃描范圍可按需定制，全維度追蹤電容量(C)、損耗系數(D)、阻抗(Z)、電阻(Rs，Rp)、電感(Ls，Lp)等關鍵參數隨溫度、頻率的變化規律。

測量采用高準度交流四端對測量法，測量頻率覆蓋20Hz～1MHz，直流偏壓范圍為0～±40V，可覆蓋電容器電參數的準確測量需求，為電容器的材料研發、品質管控、可靠性驗證與老化評估，提供一站式、標準化的便捷測試解決方案。